LG致遠(yuǎn)電子打破“帶寬"的概念全新定義ZDS5000行業(yè)分析型示波器，基于波形捕獲和數(shù)據(jù)挖掘能力，融合行業(yè)專家測試經(jīng)驗(yàn)，面向汽車電子、智能硬件、電源行業(yè)推出ZDS5054Pro、ZDS5054D、ZDS5054A三款行業(yè)分析型示波器致力于提升工程師工作效率讓測試變得更加簡單。

ZDS5000系列5054Pro/5054D/054A示波器

512Mpts存儲(chǔ)深度，捕獲長時(shí)間波形不失真

存儲(chǔ)深度=采樣率×采樣時(shí)間

如果存儲(chǔ)深度不足，高采樣率的情況下只能捕獲一小段波形，ZDS5054D標(biāo)配512Mpts超大存儲(chǔ)深度，捕獲1024ms波形的情況下，依然可以保持100MSa/s采樣率。

波形捕獲能力

100萬次/秒波形刷新率，快速發(fā)現(xiàn)異常信號

示波器波形刷新率越高，死區(qū)時(shí)間就越短，可以更快發(fā)現(xiàn)偶發(fā)性的異常信號。ZDS5054Pro示波器突破100萬次/秒波形刷新率，讓工程師快速發(fā)現(xiàn)異常信號。

豐富的觸發(fā)方式，靈活捕獲信號

標(biāo)配13種基本觸發(fā)，33種協(xié)議觸發(fā)，創(chuàng)新的模板觸發(fā)，幫助工程師采用靈活地捕獲所需信號。

豐富的數(shù)據(jù)挖掘功能

參數(shù)測量，快速判斷異常

支持54種參數(shù)的全屏測量統(tǒng)計(jì)，通過FPGA并行計(jì)算全部波形的最大值，最小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，最多可同時(shí)顯示24種參數(shù)，計(jì)算全程僅需1秒鐘。

波形搜索，快速定位異常

支持邊沿、脈寬、欠幅、上市/下降時(shí)間、周期/頻率等多種搜索條件，基于全硬件加速搜索算法，僅需1秒即可從海量波形中快速定位符合搜索條件的波形，自動(dòng)標(biāo)記使異常信號一覽無余。

45種協(xié)議解碼，助力通信協(xié)議調(diào)試

ZDS5054Pro、ZD5054D地標(biāo)配45種串行通信協(xié)議解碼，涵蓋常用的現(xiàn)場總線、系統(tǒng)總線以及內(nèi)部總線。3秒鐘即可完成512Mpts波形解碼，協(xié)助工程師快速完成通信調(diào)試。

時(shí)序分析：1秒完成通信時(shí)序一致性測試

手機(jī)、智能穿戴、家電、智慧屏、多媒體影音等嵌入式智能設(shè)備，對于內(nèi)部總線通信時(shí)序一致性有嚴(yán)格要求。ZDS5054D創(chuàng)新的時(shí)序分析功能，可分析IIC、IIS、SPI、MIPI-RFFE等信號的脈寬、幅值、邊沿、建立時(shí)間、保持時(shí)間等多種組合參數(shù)，原本手動(dòng)測試需要幾十分鐘，使用時(shí)序分析功能自動(dòng)測試僅需一秒鐘即可完成，并可導(dǎo)出測試報(bào)告。

分段存儲(chǔ)，52萬幀歷史波形記錄

對于偶發(fā)信號的波形統(tǒng)計(jì)分析，過去需要工程師蹲守在示波器前進(jìn)行手動(dòng)測試。分段存儲(chǔ)功能可對觸發(fā)的特定波形進(jìn)行存儲(chǔ)、回放，波形幀數(shù)最高可達(dá)52萬幀，解放工程師的工作。

FIR硬件實(shí)時(shí)濾波器

ZDS5000系列5054Pro/5054D/054A示波器內(nèi)置FIR硬件實(shí)時(shí)濾波器，可在10Hz-200MHz范圍內(nèi)任意調(diào)節(jié)示波器帶寬，精準(zhǔn)過濾特定頻點(diǎn)的噪聲與干擾信號，只呈現(xiàn)有效信號。

電源分析：助力電源信號完整性分析

ZDS5054A電源分析功能涵蓋了輸入輸出特性測試，MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析，調(diào)制波形測試等功能，評測電源可靠性。

MOSFET開關(guān)損耗精準(zhǔn)量化

功率MOSFET開關(guān)損耗測試是PFC電源調(diào)試中的難點(diǎn)，由于SPWM每個(gè)周期的開關(guān)損耗都不相同，傳統(tǒng)通過手光標(biāo)和數(shù)學(xué)運(yùn)算手動(dòng)測試的方式已經(jīng)不適用。ZDS5054A示波器標(biāo)配250Mpts存儲(chǔ)深度，可捕獲多個(gè)完整調(diào)制周期SPWM波形，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)各開關(guān)周期的開通/關(guān)斷/導(dǎo)通損耗，計(jì)算最大值、最小值、平均值，準(zhǔn)確量化開關(guān)器件的功率損耗。

SOA測試：有效保障MOSFET工作安全

功率MOSFET瞬時(shí)電壓、電流、功率超出安全工作區(qū)，會(huì)導(dǎo)致器件損壞、爆炸的風(fēng)險(xiǎn)陡增，常規(guī)調(diào)試手段難以對器件的各種工況進(jìn)行全面評估。SOA 安全工作區(qū)分析功能，可統(tǒng)計(jì)MOSFET在所有工況下瞬時(shí)參數(shù)超出安全工作區(qū)的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。

環(huán)路分析：快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性

穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關(guān)電源來說是非常重要的，如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動(dòng)態(tài)性能就會(huì)很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負(fù)反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應(yīng)曲線，通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。

內(nèi)置雙通道AFG信號發(fā)生器

內(nèi)置雙通道函數(shù)信號發(fā)生器，支持正弦波、三角波、方波、鋸齒波等標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信號輸出，可調(diào)節(jié)信號初始相位、占空比，頻率最高可達(dá)30MHz。