JSM-IT510 新增的“簡單 SEM"功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它"，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JSM-IT510 新增 “ 簡單 SEM "功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它"，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡

主要特點(diǎn)                                                                                                                                      

1.   簡單 SEM

只需選擇目標(biāo)視野

“簡單 SEM"支持日常工作

樣品：電子元件    加速電壓：15 kV，放大倍數(shù)：×50（上部） ×1,000（下部），信號： BE

2.   樣品交換導(dǎo)航

從樣品交換引導(dǎo)至自動觀察   安全簡單！

第一步：按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品

                                                            測量樣品高度

第二步：準(zhǔn)備抽真空觀察

*1  樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件

*2  大區(qū)域樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件

*3  樣品室相機(jī)（CS）是選配件

第三步：自動開始觀察

真空完成后自動成像

3.   Zeromag

輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無縫轉(zhuǎn)換

Zeromag 功能簡化了導(dǎo)航，提供從光學(xué)圖像到 SEM 圖像的無縫過渡。 SEM、光學(xué)圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起，以獲得分析位置的全局視圖。

樣品：菊石化石    加速電壓：7kV   信號：BE

4.   實(shí)時分析 / 實(shí)時引導(dǎo)圖 *2

SEM觀察的同時掌握該區(qū)域的元素組成

實(shí)時分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。  

簡單分析

最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析

5.   多種高級選項(xiàng)

1.  NEW 低真空混合二次電子探測器（LHSED）*

該新型探測器可以收集電子和光子信號，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

2. NEW   實(shí)時3D*

新多向分割BE探測器*，  獲得的圖像可以顯示為實(shí)時3D圖像。 即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來，并獲取其深度信息。

樣品：螺釘     加速電壓：15kV   放大倍數(shù)：x100  信號：BE

3.  蒙太奇

蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

樣品：菊石化石    加速電壓：15kV    放大倍數(shù)：x150   信號：BE   視野數(shù)：13 x 13

4.  顯示信號深度

此功能實(shí)時顯示被測樣品的分析深度（近似數(shù)值），對元素分析非常有用。