日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡

利用自動(dòng)化技術(shù)，提高了從儀器調(diào)試到觀測(cè)分析的操作效率！

JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外，還新增了一些功能，確保所有SEM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更好的用戶體驗(yàn)。 這些功能包括SEM自動(dòng)調(diào)整包、梯形校正功能（在EBSD測(cè)試中非常有用）、以及用于觀察表面形貌的Live 3D重構(gòu)功能。

FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡(jiǎn)單。

日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡

主要特點(diǎn)                                                                                                                                      

自動(dòng)觀察分析功能“Neo Action"

   智能操作，自動(dòng)執(zhí)行SEM觀測(cè)和能譜分析(EDS)

     Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6)，Landing Voltage: 5 kV

自動(dòng)校準(zhǔn)功能“SEM自動(dòng)調(diào)整包"

   用標(biāo)樣來進(jìn)行自動(dòng)倍率調(diào)整、電子束對(duì)中和EDS能量校準(zhǔn)。定期檢查確保設(shè)備處于最佳狀態(tài)。

實(shí)時(shí)3D功能

5段半導(dǎo)體型探測(cè)器可以選擇背散射電子信號(hào)。從外側(cè)4段獲取的二維圖像可用于三維圖像重構(gòu)。

全新的Live-3D功能可實(shí)時(shí)測(cè)量和檢查樣品的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

一體化EDS

  一體化EDS集成消除了SEM觀察與EDS元素分析之間的障礙。觀察屏幕上有點(diǎn)、面、線、和MAP等各種分析模式，可以立刻進(jìn)行分析。