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簡(jiǎn)要描述：集成電路高溫老化箱可對(duì)各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號(hào)源信號(hào)進(jìn)行高溫工作壽命試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)老煉篩選。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-01-30訪 問(wèn) 量：1149產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣 |
1.本系統(tǒng)試驗(yàn)線路和試驗(yàn)方法符合標(biāo)GJB360相關(guān)要求；
2.適用于各種軸向、徑向、表貼式等封裝形式的鉭電容器、陶瓷電容器進(jìn)行高溫高壓電老煉試驗(yàn)；
3.計(jì)算機(jī)程控模式，主控計(jì)算機(jī)采用高可靠的標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)用計(jì)算機(jī)或根據(jù)需方要求配置標(biāo)準(zhǔn)商用計(jì)算機(jī)；
4.Windows操作系統(tǒng)專(zhuān)用軟件，類(lèi)Windows的圖形用戶界面；
5.采用屏幕液晶顯示器，標(biāo)準(zhǔn)工控機(jī)鍵盤(pán)、鼠標(biāo)進(jìn)行操作。
集成電路高溫老化箱技術(shù)參數(shù)
1.高溫試驗(yàn)箱
試驗(yàn)箱溫度控制范圍：環(huán)境溫度～150℃；
試驗(yàn)箱溫度控制精度：≤±1℃；
試驗(yàn)箱溫度均勻性：≤±3℃；具體參照廣州五所產(chǎn)品出廠指標(biāo)；
2.老煉試驗(yàn)電源：共 8路老煉試驗(yàn)電源，可同時(shí)老煉1種不同試驗(yàn)電壓的電容器（配備電源可選）
3.檢測(cè)控制板
整機(jī)配置16塊控制檢測(cè)板；
老煉電壓檢測(cè)范圍：0.3V～10.0V, 精度：± 0.5％of FS；
5.老煉試驗(yàn)區(qū)
整機(jī)采用一板一區(qū)的控制方式，即配置16塊由單片機(jī)獨(dú)立控制的控制檢測(cè)板，一一對(duì)應(yīng)控制16個(gè)試驗(yàn)通道；
每個(gè)試驗(yàn)通道由一塊老煉試驗(yàn)板和一塊檢測(cè)控制板組成；
根據(jù)老煉試驗(yàn)電源的配置，提供多個(gè)不同電壓試驗(yàn)區(qū)。
6.試驗(yàn)工位
每塊老煉試驗(yàn)板的檢測(cè)試驗(yàn)工位最多為56個(gè)；
整機(jī)同時(shí)可插16塊試驗(yàn)板，總計(jì)最多56個(gè)/塊×16塊=896個(gè)檢測(cè)試驗(yàn)工位；（可按需定制）
為了防止觸電的發(fā)生,請(qǐng)不要掀開(kāi)儀器的蓋子。本儀器內(nèi)部所有的零件絕對(duì)不需使用者維護(hù)。如果儀器有異常情況發(fā)生，請(qǐng)尋求我實(shí)驗(yàn)室給予維護(hù)。
定期維護(hù)
交流電源供應(yīng)器、輸入電源線各相關(guān)附件等每年至少要仔細(xì)檢驗(yàn)和校驗(yàn)一次，以保護(hù)使用者的安全和儀器的精確性。
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