EM TEST EFT500N5 電快速瞬變脈沖群模擬器

特點
10,000 脈沖/秒
4.8kV 脈沖群電壓
脈沖重復頻率 1MHz
內(nèi)置單相或三相耦合網(wǎng)絡，電流可達 50A
依照 IEC 61000-4-4 Ed.2 標準要求的耦合路徑進行脈沖校準
標準測試程序
USB 和 GPIB 接口
測試軟件支持 Windows-Vista 操作系統(tǒng)

EM TEST EFT500N5 電快速瞬變脈沖群模擬器應用
EFT 500N5 - 電快速瞬變脈沖群測試設備
EFT 500N5 是*的電快速瞬變脈沖群測試設備，具有用于單相或三相被測設備主機供電線路的內(nèi)置耦合去耦網(wǎng)絡，和用來連接容性耦合鉗的 HV 終端。頻率范圍在 100Hz 到 1,000kHz 之間。EFT 500N5 每秒鐘能夠產(chǎn)生10,000次瞬變，或在每一次脈沖群中產(chǎn)生1,000次瞬變。其性能* IEC 61000-4-4:2004（Ed.2）的要求。預編程的的標準測試程序和若干備選的用戶測試程序，使得 EFT 500N5 成為適宜的獨立測試方案，既可用于被測產(chǎn)品或半組裝產(chǎn)品在開發(fā)過程中的測試，也可用于進行終測試。

標準
EN 61000-4-4
EN 61000-6-1
EN 61000-6-2
IEC 60601-1-2
IEC 61000-4-4
IEC 61326
IEC 61850-3

優(yōu)點
EFT 500N5 - 高于標準要求的電快速瞬變脈沖群測試設備
EFT 500N5 具有寬量程可調(diào)整的頻率范圍和脈沖群持續(xù)時間，同時能夠滿足 50ohm 負載輸出波形以及 EUT 端口共模操作。作為一臺全兼容的電快速瞬變脈沖群測試設備，EFT 500N5 還拓寬了脈沖電壓范圍，以滿足家用電器等領(lǐng)域內(nèi)一些較為特殊的產(chǎn)品系列標準和制造商要求。
EFT 500N5 分立式測試設備擁有多種型號。通過內(nèi)置單相或三相耦合網(wǎng)絡，其 EUT 額定電流高可達 50A。
EFT 500N5 同樣還可以集成到全套測試系統(tǒng)中，通過相關(guān)控制接口，連接共用的耦合/去耦網(wǎng)絡，從而與其他 EM TEST 500 系列產(chǎn)品配合使用。

操作
易于操作
通過前面板菜單和功能鍵，用戶可以快速、準確地編輯測試程序。控制光標用于對已編定測試程序的所有測試參數(shù)進行快速控制，使測試過程變得非常簡單，并確保每一測試步驟都能夠正確無誤地進行。

軟件
控制及報告生成軟件 IEC.CONTROL
iec.control 是非常人性化的控制軟件，它使用方便、用戶界面結(jié)構(gòu)清晰、靈活性強，各項操作功能以及 EM TEST 標準信息庫使用戶可以輕松完成自定義測試程序。它能夠自動識別所連接的 EM TEST 測試設備并進行自動配置。其強大的報告功能可以幫助用戶生成滿足要求的測試報告。
iec.control 支持 Windows 95/98、Windows ME、Windows NT、Windows 2000、Windows XP 和 Windows Vista 操作系統(tǒng)。遠程控制則通過 USB 或 GPIB 接口來完成。iec.control 兼容各種類型的 GPIB 卡。

其他型號
Available EFT 500N models
EFT 500N5 - with 1-phase coupling network, 250 V / 16 A
EFT 500N5.1 - with 3-phase coupling network, 3 x 440 V / 32 A
EFT 500N5.2 - with 3-phase coupling network, 3 x 440 V / 50 A
EFT 500N5.5 - with 1-phase coupling network, 250 V / 32 A
Further coupling networks on request

附件
HFK - 容性耦合鉗
HFK 容性耦合鉗* IEC 61000-4-4 標準要求。

ITP - 抗擾度測試探頭
ITP 是研發(fā)產(chǎn)品診斷測試工具。它包含多種電場探頭，能夠定位某一系統(tǒng)中或印刷電路板上的薄弱點。群脈沖則用于產(chǎn)生干擾信號。




CA EFT KIT - 電快速瞬變脈沖群校準組件
按照 IEC 61000-4-4:2004(Ed.2) 的要求，脈沖群發(fā)生器應當能夠產(chǎn)生 50 ohm 和1,000 ohm兩種負載脈沖。EM TEST 為用戶提供包含兩種負載脈沖校準電阻和一個適配器在內(nèi)的校準組件，用來對被測設備輸出端口的波形進行校準。