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簡(jiǎn)要描述：ST5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試的測(cè)試儀，不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測(cè)試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形，將測(cè)試可視化分析，有助于檢查的溯源。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-09-18訪 問 量：1671產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
為電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)
● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)
● 支持廣泛的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能。
專用于直流耐壓測(cè)試的高配置機(jī)型
這是提供更優(yōu)化的檢測(cè)品質(zhì)的ST5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀的介紹。其性能可以支持各個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試條件，應(yīng)對(duì)所有的直流耐壓測(cè)試。
使用波形和數(shù)值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示功能】
ST5680EOL是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試的測(cè)試儀。
不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測(cè)試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
將測(cè)試可視化分析，有助于檢查的溯源。
輸出電壓和泄漏電流以波形顯示
可以通過波形確認(rèn)測(cè)試時(shí)輸出電壓或泄漏電流的動(dòng)向。
在確認(rèn)波形的同時(shí)，還可按時(shí)間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。
無需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作，在現(xiàn)場(chǎng)就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。
波形顯示的優(yōu)點(diǎn)
-有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序
-通過分析檢查時(shí)的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。
-有助于對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析
-可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測(cè)時(shí)的波形做比對(duì)。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。
-有助于宣傳檢查的可靠性
-波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測(cè)功能】
可以檢測(cè)因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。
將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險(xiǎn)。
防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)【接觸檢查功能】
通過測(cè)量端子間的電容（雜散電容、被測(cè)物的電容），能判斷是否正確連接檢測(cè)對(duì)象。
防止將不合格品誤判為合格品
?測(cè)試中測(cè)試線脫落的情況
?測(cè)試部位間電阻增加的情況
例：測(cè)試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等
可以輕松使用
?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的接線
適用于電池、電機(jī)、電子零件等的耐壓測(cè)試
ST5680EOL是向測(cè)試對(duì)象輸出高電壓，測(cè)試絕緣性能的測(cè)試儀。可以對(duì)從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對(duì)象進(jìn)行安全測(cè)試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測(cè)試。
可以在不考慮電容成分的情況下進(jìn)行測(cè)試
就算是測(cè)試對(duì)象含有電容成分的情況下，因?yàn)橛胁灰装l(fā)生過沖的設(shè)計(jì)，不會(huì)對(duì)測(cè)試對(duì)象輸出超過設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進(jìn)行測(cè)試。
另外，通過配合延遲時(shí)間的設(shè)置，也可以不對(duì)充電電流流動(dòng)的時(shí)間進(jìn)行判斷，從而防止誤判。
※可測(cè)量的最大靜電電容量值200 nF (測(cè)量更大的電容值可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量時(shí)間變長(zhǎng)，或者測(cè)量值的偏差變大。 ）
最小分辨率0.001 μA的高精度判定
隨著電池和電機(jī)等絕緣性能的提高，對(duì)判斷耐壓測(cè)試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高，要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測(cè)試儀，則無法準(zhǔn)確測(cè)量泄漏電流的測(cè)量值。ST5680EOL實(shí)現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測(cè)量微小的泄漏電流，判斷合格與否。
搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能
搭載了確認(rèn)測(cè)試對(duì)象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。
以一定速度提高輸出電壓，確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時(shí)的電壓。
測(cè)試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，有連續(xù)升壓測(cè)試和逐級(jí)升壓測(cè)試。
ST5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀兩種測(cè)試都可以實(shí)施。可用于電池開發(fā)時(shí)的性能評(píng)價(jià)(絕緣耐力評(píng)估)。
| 主要功能 | 直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能"表) |
|---|---|
| 功能一覽 | 聯(lián)鎖、自動(dòng)放電、消除偏移、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制） |
| 使用溫濕度范圍 | 0°C～40°C，80% RH或以下（無結(jié)露） |
| 適合標(biāo)準(zhǔn) | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
功耗 | 約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。 |
最大額定功率 | 800 VA |
接口 | 通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存儲(chǔ)：U盤 |
尺寸·重量 | 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
附件 | 電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南 |
| 直流耐壓測(cè)試 | 輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上 測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測(cè)試 | 輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 絕緣擊穿電壓測(cè)試 | 測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試 測(cè)量?jī)?nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值 檢測(cè)有效電壓：150V以上 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words |
| ARC放電檢測(cè)功能 | 檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng) 設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％ 檢測(cè)有效電壓：150V以上 |
| 存儲(chǔ)功能 | ·波形·圖形 ·面板保存功能 ·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能 |
| 判定功能（判定輸出） | 判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測(cè)量值＞上限值 PASS：上限值≥測(cè)量值≥下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值＜下限值 |
| 注記（*1） | 環(huán)境溫度t不足5℃時(shí)加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過35℃時(shí)加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
| 測(cè)試范圍 | 100 kΩ ～ 99.99 GΩ | |
|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 注記（*2） | · 測(cè)試電壓為50 V?99 V時(shí)，測(cè)量精度加算±10% · 測(cè)試電壓為100 V?999 V時(shí)，測(cè)量精度加算±5% · 測(cè)試電壓為1000 V?2000 V時(shí)，測(cè)量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過35℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測(cè)定速度為FAST2時(shí)，測(cè)量精度加倍 | |
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