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簡要描述：CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動 ；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
產(chǎn)品型號：CL-4 | 4~8廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-01-27訪 問 量：2614詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
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CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺特點(diǎn) / 應(yīng)用
滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.
大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試
同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動
可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺 臺體規(guī)格：
光學(xué)系統(tǒng)：
探針座
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