ENL3010浪涌電流測試系統

簡要描述：ENL3010浪涌電流測試系統通過電容放電產生電流波，結合上位機測試軟件，設定好所需的測試條件，再通過調節不同的電感值來得到需要的電流脈寬，最后輸出測試要求的電流值。

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更新時間：2025-09-25
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浪涌電流是指電源接通瞬間或是在電路出現異常情況下產生的遠大于穩態電流的峰值電流或過載電流。ENL3010型浪涌電流試驗臺的測試方法符合JB/T7626-2013中的相關標準。浪涌電流試驗臺，是二極管及晶閘管等相關半導體器件測試的重要檢測設備。本系統通過電容放電產生電流波，結合上位機測試軟件，設定好所需的測試條件，再通過調節不同的電感值來得到需要的電流脈寬，最后輸出測試要求的電流值。

ENL3010浪涌電流測試系統

系統單元：

浪涌電流測試單元	Surge current test unit
反向電壓測試單元	Reverse voltage test unit
阻斷漏電流測試單元	Block leakage current test unit
過壓、漏電保護單元	Over voltage、leakage protection unit
夾具單元	Fixture unit
計算機控制單元	Computer control unit

ENL3010浪涌電流測試系統

參數指標：

浪涌電流ITSM/IFSM	100A-500A±5%，分辨率/Resolving power 2A 500A-2000A±5%，分辨率/Resolving power 5A 2000A-5000A±5%，分辨率/Resolving power 10A
浪涌電流波形/Surge current waveform	正弦半波/Approximate sine half wave
浪涌電流底寬/Bottom width of surge current	10ms
反向電壓/Reverse voltage	50-2000V±5%，分辨率/Resolving power 10V 50Hz正弦半波/Sinusoidal half wave
阻斷漏電流/Blocking leakage current	1uA-1000uA，保護漏電流可設定（誤差5%） Protection leakage current can be set(Error 5%)
適用于To，SMD，模塊封裝測試夾具；計算機控制、采樣及顯示 It is suitable for To，SMD， module encapsulation test fixture， computer control，sampling and display.

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