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S116 Surtronic泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)A類型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測量儀能夠?qū)Χ喾N標(biāo)準(zhǔn)裝置提供多種連接選擇。 A類型USB A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機(jī)（ESC/POS兼容），參見“配件“頁或者標(biāo)準(zhǔn)USB儲(chǔ)存裝置，儲(chǔ)存結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。
UVCTest材料降解儀器使用亞太拉斯 UVCTest，研究暴露在以254nm為峰值的殺菌消毒UV-C輻射下，紡織品、塑料、油漆和產(chǎn)品的老化情況。
SEPAPMHE光老化分析儀Atlas SEPAP MHE光老化分析儀是為了加快高分子聚合物的加速光老化而設(shè)計(jì)，目的在于了解暴露在戶外的高分子聚合物的老化機(jī)理，并在分子水平上研究化學(xué)演化。
力科T3SP15D差分時(shí)域反射計(jì) T3SP10D（10 GHz）和T3SP15D（15 GHz）通過真正的差分信號(hào)激勵(lì)DUT，TDR提供50 ps（T3SP10D）和35 ps（T3SP15D）的快速上升時(shí)間，故障分辨率（FR4）分別為4.2 mm和3 mm，DUT長度可達(dá)40 m，TDR采樣率最高可達(dá)10 MHz，并使用與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相同的OSL校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。 由于外形小巧，重量輕，可選內(nèi)部電池
TK4150三相電源分析單元是一款專用于電動(dòng)汽車充電樁（機(jī)）輸入側(cè)交流參數(shù)測量與分析的儀器，該儀器與其他設(shè)備一起，用于組建電動(dòng)汽車充電樁（機(jī)）綜合測試平臺(tái)，適用于充電樁（機(jī)）進(jìn)行全性能檢測（型式評(píng)價(jià)等）、出廠檢驗(yàn)、到貨驗(yàn)收等。
TK4250直流充電接口綜合測試與分析單元一款專用于電動(dòng)汽車非車載充電機(jī)輸出側(cè)直流參數(shù)控制與轉(zhuǎn)換的儀器，配有標(biāo)準(zhǔn)直流充電插座，可用于非車載充電機(jī)互操作性測試、絕緣電阻模擬、低壓輔助電源測試等項(xiàng)目。
聯(lián)訊rBT1250 10G突發(fā)誤碼分析儀 rBT1250 專門針對 EPON、GPON 、XGPON及XGSPON應(yīng)用突發(fā)誤碼測試及分析。 rBT1250提供3個(gè)獨(dú)立通道數(shù)據(jù)碼型發(fā)生器和誤碼探測，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析。碼型時(shí)序靈活可調(diào)，并針對器件測試需求，給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、模塊復(fù)位信號(hào)等低速控制通道。而且rBT1250 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，可以自動(dòng)測距，對長纖測試毫無問題。從
聯(lián)訊PBT8812 53GBaud PAM4誤碼儀 聯(lián)訊儀器 pBT8812 高性能8x112Gb/s誤碼分析儀，可支持多至8組業(yè)務(wù)通道。 - 各通道可獨(dú)立配置為NRZ或PAM4信號(hào)制式。 - 速率最高可支持56 GBaud (112Gb/s@Pam4)。
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