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ENJ2005-B半導體分立器件測試系統，支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。
EN-3020C IGBT靜態參數測試系統針對 IGBT的靜態參數而研發的智能測試系統，功率3500V、1500A（可擴展），自動化程度高，按照操作人員設定的程序自動工作。計算機記錄測試結 果，測試結果可轉化為文本或EXCEL 格式存儲，工作時序、開關的動作狀態，數據采集等均由計算機和PLC共同完成。 測試方法靈活，可測試單個單元和多單元的模塊，系統安全穩定，人機界面友好，操作簡便。
EN-6500A IGBT動態參數測試系統，是針對IGBT 器件的開關特性及內部續流二極管的反向恢復特性而推出的全自動測試系統。適用于電流小于4500A，集電極電壓 小于6000V，續流 二極管正向電流小于4500A的IGBT 器件的特性參數測試。
ENJ2010 IGBT便攜式半導體靜態參數測試儀，是一種全新的功率半導體器件參數測試儀器，可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態參數的測試。儀器與配套電腦連接使用，通過友好人機界面操作，便于各 測試參數的組合、數據結果以表格形式呈現，具有使用便捷、測試精度高等優點，適合于各測試器件使用現場及產線維護場合使用。
ENI1220 IPM功率模塊測試系統基于DSP和FPGA技術，通過SPWM波形控制信號源，實時檢測IPM模塊的開關時間特性（開通/關斷時間）、電壓電流諧波特性，并判斷器件的故障保護功能（如過壓、過流、過熱等）。 ?
高壓電器耐久測試系統（簡稱耐久）為NGI針對汽車、軌道交通、家用電器、航空器、船舶、醫療儀器等相關產品中電氣回路耐久可靠性測試而專門研發的測試系統。
DC-DC轉換器測試系統主要完成DC-DC轉換器常溫測試、試驗測試等相關工作，包括產品的輸入/輸出項測試、保護項測試、時序測試、通訊測試等各類測試項。此測試系統可幫助用戶實現DC-DC轉換器輸入/輸出電壓、 紋波、功率、源/負載效應、耐壓等各類測試項參數計算及測試報表的自動生成。
多通道電源老化測試系統基于NGI電子負載為搭建，可以同時老化多通道電源，每個通道相互獨立，通道之間互不影響，每通道均支持CC、CV、CP、CR模式，上升、下降斜率可設，提供可編程序列測試功能，多至100組序列，每個序列高達50步。具備用戶自定義測試計劃，實時數據顯示，歷史數據查詢，良品率分析等功能。是各種規格電源老化的選擇。
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